測量半導體材料的電導率時，因明顯的塞貝克效應及珀爾帖效應給測量帶來了困難。塞貝克效應產生了因溫差造成的寄生電勢，成為測量誤差的重要根源。為了消除寄生電勢的影響，在完成一次測量后，將電流改變方向，再記下數據，然后取兩次測量的平均值。若電流在一個方向流動時，克服電阻的電壓與寄生電勢相加，則在電流改變方向后，克服電阻的電壓與寄生電勢相減，將兩次測量的電壓平均后，寄生電勢的影響抵消。

　　在低溫冷庫中由于珀爾帖效應，導體內通電時將產生溫度梯度，該溫度梯度產生了附加的寄生電勢。但是因珀爾帖效應建立溫度梯度需要一定的時間，通過迅速的反復改變電流方向，可以在實際上避免因珀爾帖效應產生的溫度梯度，使珀爾帖效應的影響消除。

　　采用直流電位計測量電壓，并采用周期性地政變電流方向的變流器。變流器不斷改變電源的極性，每秒40次。待測的元件及標準電阻中的電壓以同樣的頻率變換方向，使輸出到電位計上的電壓極性始終不變。